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1. 研究目的与意义

随着当今电子技术的迅速发展，晶体管应用越来越广泛。而在电路设计中常常需要知道精确的三极管直流静态参数和交流动态参数，例如在设计一个三极管共射放大电路时，必须先根据三极管的交流放大倍数计算出电路增益，才能得到符合应用需求的电路。本课题就是对三极管的常用参数进行测量，该设计在生产实践中具有广大的需求。同时可以极大的锻炼学生在模拟电路，单片机方面的动手能力。

2. 国内外研究现状分析

近年来国内外众多学者和厂家对这一领域展开了研究。例如1995年中南民族学院物理系的朱俊和长江水利委员会图书馆的朱红对三极管系数的自动测量进行了研究。研究表明三极管系数的测量可以无需区分它的三级以及无需区分PNP型或NPN型便能自动测量的方法。这种方法大大简化了测量步骤，做到一步到位，并且提高了测量结果的准确性。2008年重庆大学光学工程的刘俊对基于虚拟仪器的晶体管特性测试仪进行了相关研究。研究表明这种测试仪是采用NILabMEW8.0开发的测试软件系统，它能控制测试仪器完成所有事物测试任务，具有测试精度高，使用简单，方便的特点。2011年清华大学电子工程系的刘小艳、张尊侨、金平对晶体管输出特性曲线测试仪的设计进行了研究。研究表明该测试仪与通用示波器配合可以观察到清晰稳定的晶体管输出特性曲线。与专用的晶体管特性图示仪相比，该测试仪具有成本低且操作简单的优点，在电子电路实验教学和一些工程应用中可代替晶体管特性图示使用。

国内三极管参数的测定产品功能也趋向于全面，测试范围广，测试精度高，但这样的产品会相应的增加成本，如何降低成本并能够测试制定项目是今后半导体三极管参数测试仪的发展趋势。

3. 研究的基本内容与计划

4. 研究创新点

1.基于高精度模拟电路和单片机设计，采用LED直观的显示结果。

2.系统结构简单、成本低廉，适用性强。